低壓電容器和高壓電容器的特點

時間：2017-03-17

作者：深圳市新晨陽電子有限公司

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高頻低阻電解電容常見的故障
故障判斷：高頻低阻電解電容常見的故障有，容量減少、容量消失、擊穿短呼及漏電等，其中容量變化是因電解電容在使用或旋轉過程中其內部的電解液逐漸干涸引起，而擊穿與漏電一般為所加的電壓過高或電容本身質量不佳所致。判斷高頻低阻電解電容的好壞一般采用萬用表的電阻擋進行測量。具體方法為：將電容兩管腳短路進行放電，用萬用表的黑筆接電解電容的正極，紅表筆接負極（此法對應于指針式萬用表，用數字式萬用表測量時表筆
如何進行熱敏電阻的測量
如何進行熱敏電阻的測量本文主要介紹了熱敏電阻如何測量，本文字數約470字，閱讀全文需5分鐘。熱敏電阻測量與RTD相似，熱敏電阻也是溫度敏感的半導體，其阻抗隨溫度而變化。熱敏電阻由以玻璃或環氧珠封裝的金屬氧化物半導體材料制造而成。而且，熱敏電阻的典型標稱阻抗值要比RTD高得多，阻抗值從2000Ω到10，000Ω，故可用于較低電流的測量。每個傳感器都有一個設定的標稱阻抗，依據一定的線性化近似
分析高頻貼片電容特點及指標
對于電子行業中，單單貼片電容的分類就是多種多樣了。現在就對于其一種分類來解說一下。高頻貼片電容的特點跟產品指標標準如下： 1. 高Q值C0G系列MLCC，屬于微波陶瓷多層片式瓷介電容器； 2. 采用順電體微波介質材料，呈線性溫度系數，屬熱穩定型； 3. 具有較高的穩定性，其電容量幾乎不受時間、交流、直流信號的影響； 4. 具有較低的介質損耗，即較高的Q值，**低的ESR。 5. 適用于要求Hi-Q
電容發熱特性測量系統的概略
高電容率類電容器（DC～1MHz區域）發熱特性測量系統的概略用雙較電源將信號發生器的信號增幅，加在電容器上。用電流探頭（通用探頭）觀察此時的電流，使用電壓探頭觀察電容器的電壓。同時用紅外線溫度計測量電容器表面的溫度，明確電流、電壓及表面溫度上升的關系。溫度補償型電容器（10MHz～4GHz帶寬）發熱特性測量系統的概略和測量組成系統的設備及電纜類均統一為50Ω，將測量試料裝在形成微帶線的基