車(chē)牌識(shí)別濾光片|紅外濾光片||帶通濾光片

時(shí)間：2017-07-05作者：深圳市思貝達(dá)科技有限公司瀏覽：165

深圳市思貝達(dá)科技有限公司專(zhuān)注于激光光路鏡片,透鏡,棱鏡,全反鏡,場(chǎng)鏡,振鏡,各種濾光片等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)思貝達(dá)科技有限公司

  關(guān)于光學(xué)表面光法度劃痕、麻點(diǎn)的解析： 1. 劃痕 1.1 依據(jù)美**MIL-0-13830將劃痕單位定為：1/1000mm,如：40#劃痕寬度為 40*（1/1000mm）=0.04mm。 1.2 當(dāng)元件上的劃痕級(jí)數(shù)**過(guò)表面質(zhì)量要求的劃痕 線偏振鏡和圓偏振鏡的區(qū)別： 偏振鏡有兩種。一種是線偏振鏡，又稱(chēng)普通偏振鏡，英文標(biāo)志為PL；另一種是圓偏振鏡，英文標(biāo)志 為CPL。 CPL的外觀呈灰色，是由一片

• 近紅外光譜技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀評(píng)述

  盡管近紅外光譜不屬于特別靈敏的分析技術(shù)，但由于該技術(shù)具有不需要樣品預(yù)處理的特點(diǎn)，其非常適合于過(guò)程監(jiān)測(cè)、材料科學(xué)和醫(yī)療等領(lǐng)域的應(yīng)用。 過(guò)去十年近紅外光譜技術(shù)新進(jìn)展 *們認(rèn)為近紅外光譜技術(shù)進(jìn)展主要是新成像系統(tǒng)和儀器的小型化。 Pierre Dardenne是比利時(shí)瓦隆農(nóng)業(yè)研究中心的部門(mén)主任，他認(rèn)為近紅外技術(shù)的兩大進(jìn)展是高光譜成像和便攜式儀器。Gary McGeorge是百時(shí)美施貴寶公司(brist

• 思貝達(dá)濾光片光學(xué)鍍膜濾光片檢測(cè)

  鍍膜的環(huán)境試驗(yàn) 一般情況下，薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)使薄膜內(nèi)部存在一定空隙，并造成薄膜器件光學(xué)特性和機(jī)械特性的不穩(wěn)定，因此對(duì)某些在特殊環(huán)境下使用的薄膜必須進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。 1.恒溫恒濕試驗(yàn)。它是較常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)。一般在相對(duì)濕度95%，溫度為55度的環(huán)境下存放6-24小時(shí)；或在40度以下存放10天；或在室溫至80度的環(huán)境下做多次循環(huán)試驗(yàn)，然后檢測(cè)薄膜樣品在試驗(yàn)前后的膜層的

• 激光測(cè)距儀專(zhuān)用濾光片950nm窄帶濾光片

  激光測(cè)距儀，是利用激光對(duì)目標(biāo)的距離進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)定的儀器。激光測(cè)距儀在工作時(shí)向目標(biāo)射出一束很細(xì)的激光，由光電元件接收目標(biāo)反射的激光束，計(jì)時(shí)器測(cè)定激光束從**到接收的時(shí)間，計(jì)算出從觀測(cè)者到目標(biāo)的距離。激光測(cè)距儀重量輕、體積小、操作簡(jiǎn)單速度快而準(zhǔn)確，其誤差僅為其它光學(xué)測(cè)距儀的五分之一到數(shù)百分之一。 激光測(cè)距儀分手持激光測(cè)距儀和望遠(yuǎn)鏡式激光測(cè)距儀。 1、手持激光測(cè)距儀：測(cè)量距離一般在200米內(nèi)，精度在2m