DY系列溫濕度箱/溫濕度測試箱/溫濕度環境模擬試驗箱

時間：2016-12-06作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：197

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 芯片研發過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質認證測試的關鍵部分。溫度循環：根據 JED22-A104 標準，溫度循環 (TC) 讓部件經受較端高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時，將部件反復暴露

• 溫變速率線性非線性區別

  1.線性快速溫變試驗箱指的是試驗工作中，在設定的某一段時間內，它的升溫速率和降溫速率是不變的，例如：在某段時間內，線性快速溫變試驗箱的升溫速率是每分鐘升3度，那么它在這整個時間段內的升溫速率都是3度每分鐘固一不變，不會有時候是2度每分鐘，有時候是4度每分鐘;同理，降溫速度也是一樣的。簡而言之就是升降溫只能3度每分鐘，不會變。2.非線性快速溫變試驗箱是指：快速溫變試驗箱在某段時間內工作的升溫度或降溫

• 真空熱試驗模擬

  真空熱試驗模擬 ? 為了檢驗衛星各子系統的電性能并消除其相互的干擾, 需對衛星上廣泛使用的半導體器件進行老化試驗處理, 后來又出現了熱應力篩選試驗。所謂熱應力篩選試驗, 就是在常溫、常壓下進行熱循環試驗, 將潛在的失效通過加大熱應力的辦法將其顯現出來并加以消除, 使器件的失效進入穩定過渡期, 最后在壽命終比前又出現失效高發期。這樣就形成了一浴盆曲線, 即早期和晚期是事故高發期, 中期是

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  恒溫恒濕箱/重慶恒溫恒濕試驗箱/重慶可程式恒溫恒濕試驗箱/恒溫恒濕機/成都恒溫恒濕試驗機/成都可程式恒溫恒濕試驗機 ?GL系列簡介：本試驗箱適用于對產品（整機）、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環試驗（高溫起始降溫點需≤90℃）。本試驗箱不能用于散熱試驗樣品的試驗。且對于**90℃以上溫度時的降溫要求，不能采用開啟該試驗箱制冷系統來進行 ? GL4系列詳細參數 型號 GL4