三綜合試驗箱/重慶溫濕度震動三綜合試驗箱/重慶高低溫振動三綜合箱/成都高低溫濕熱振動環(huán)境試驗箱/成都三綜合箱

時間：2016-12-14作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：514

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  詞條說明

• 高低溫試驗箱出現(xiàn)故障該怎么辦？

  高低溫試驗箱出現(xiàn)故障該怎么辦？ 高低溫試驗箱基本故障排除方法： 一、高低溫試驗設(shè)備.在高溫試驗中，如溫度變化達不到試驗溫度值時，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排除故障。如溫度升得很慢，就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常，反之，就檢查風(fēng)循環(huán)的電機 運轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升，過溫保護，那么，控制器出故障，須更換控制儀表。 二、.高低溫試

• 紫外線老化測試多久相當(dāng)于使用一年

  紫外光老化試驗是一種對產(chǎn)品進行紫外光老化試驗的試驗方法。這個試驗可以評價材料，涂料，以及諸如塑料，涂料，橡膠，纖維，織物等在室外使用的產(chǎn)品。紫外光老化試驗是利用紫外光管內(nèi)的紫外光，對被測試樣進行加速老化試驗。輻照強度及試驗時長可依試驗要求及本產(chǎn)品之設(shè)計而定。但是，經(jīng)過多長時間的UV老化測試才相當(dāng)于產(chǎn)品的實際使用年限呢？這并不是一個確切的答案，因為實際的年限取決于許多因素，例如使用環(huán)境、氣候條件、維

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗箱常用試驗項目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗箱是一種專門用于對半導(dǎo)體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對半導(dǎo)體芯片進行的試驗有以下5個：1. 高溫儲存測試條件：85℃±5℃持續(xù)時間：1000h2. 低溫儲存測試條件：-40℃±5℃持續(xù)時間：1000h3. 溫度循環(huán)測試條件：-40℃～85℃持續(xù)時間：200

• 恒溫恒濕箱/重慶恒溫恒濕試驗箱/重慶可程式恒溫恒濕試驗箱/恒溫恒濕機/成都恒溫恒濕試驗機/成都可程式恒溫恒濕試驗機

  恒溫恒濕箱/重慶恒溫恒濕試驗箱/重慶可程式恒溫恒濕試驗箱/恒溫恒濕機/成都恒溫恒濕試驗機/成都可程式恒溫恒濕試驗機 ?GL系列簡介：本試驗箱適用于對產(chǎn)品（整機）、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗（高溫起始降溫點需≤90℃）。本試驗箱不能用于散熱試驗樣品的試驗。且對于**90℃以上溫度時的降溫要求，不能采用開啟該試驗箱制冷系統(tǒng)來進行 ? GL4系列詳細參數(shù) 型號 GL4