材料斷口觀察SEM分析檢測

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

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詞條說明
什么是表面微觀形貌SEM？
表面所具有的微觀幾何形狀統稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產生的。一個制件表面的微觀幾何形貌
表面成分分析的常見方法
表面成分分析按照結論來區分，物質成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結果?通俗的理解是——通過成分分析的手段得出被測物中主要包括的成分，概況的來說就是確定物質的組分。成分分析的定量結果?通俗的理解是——在確定被測物的定性組分之后，進行相應的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現在的科學技術，定量分析只能做到無限接近真實情況，但卻無法**保證準確。定性半定量分
X射線光譜方法測定
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設
聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、