安博檢測(cè)可靠性項(xiàng)目介紹（高低溫老化、溫濕度循環(huán)、冷熱沖擊、氙燈老化、UV老化、碳弧燈老化、鹽霧試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)、）

時(shí)間：2020-02-24作者：深圳安博檢測(cè)股份有限公司瀏覽：206

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• 詞條

  詞條說明

• 如何快速申請(qǐng)MTBF認(rèn)證

  MTBF（Mean time between failures，平均故障間隔時(shí)間)定義為，失效或維護(hù)中所需要的平均時(shí)間，包括故障時(shí)間以及檢測(cè)和維護(hù)設(shè)備的時(shí)間。對(duì)于一個(gè)簡(jiǎn)單的可維護(hù)的元件，MTBF = MTTF + MTTR。因?yàn)镸TTR通常遠(yuǎn)小于MTTF，所以MTBF近似等于MTTF，通常由MTTF替代。MTBF用于可維護(hù)性和不可維護(hù)的系統(tǒng)。1)針對(duì)高頻率故障零件的重點(diǎn)對(duì)策及零件壽命延長(zhǎng)的技術(shù)改造

• IEC 61730測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹

  參考IEC 61215：2005 地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定的試驗(yàn)方法、IEC 61730-2:2004光伏組件安全鑒定、IEC 61215 Ed.3 地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定的試驗(yàn)方法,通過不同的熱斑耐久試驗(yàn)方法對(duì)光伏組件進(jìn)行測(cè)試以及模擬各類型熱斑對(duì)組件的影響,對(duì)比熱斑耐久試驗(yàn)以及評(píng)估熱斑效應(yīng)對(duì)組件的材料、性能影響.。隨著太陽能發(fā)電的廣泛應(yīng)用,裝機(jī)容量不斷提升。為了保證投資電站的發(fā)電量,如

• 安博檢測(cè)可靠性項(xiàng)目介紹（高低溫老化、溫濕度循環(huán)、冷熱沖擊、氙燈老化、UV老化、碳弧燈老化、鹽霧試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)、）

  當(dāng)今社會(huì)，市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，品牌企業(yè)之間競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)不僅局限在產(chǎn)品的功能與外觀，產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性越來越受到市場(chǎng)和客戶的重視。安博檢測(cè)股份近年來加大對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的投入，配備了各種環(huán)境測(cè)試設(shè)備。通過使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的溫度，以及濕度變化等情況，加速激發(fā)產(chǎn)品在使用環(huán)境中可能發(fā)生的失效，來驗(yàn)證其是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中的預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，為產(chǎn)品提供整體進(jìn)行評(píng)估，以確定產(chǎn)品可靠性壽命。可靠

• IEC 61215的更新內(nèi)容-序列內(nèi)容變更

  關(guān)于IEC 61215的更新內(nèi)容-序列內(nèi)容變更在老版本61215基礎(chǔ)上補(bǔ)充及變更了一些測(cè)試內(nèi)容，具體的內(nèi)容將做分別的羅列和介紹。由于測(cè)試序列的變更，老標(biāo)準(zhǔn)整套測(cè)試只需要8片組件，而新標(biāo)準(zhǔn)增加至10片。在組件初始外觀檢查與功率測(cè)試之間，增加了初始化處理步驟，晶硅組件為預(yù)處理，而薄膜組件不需要進(jìn)行，此部分取代了老版本中的預(yù)處理環(huán)節(jié)。參考組件由此前的1片增加至3片原有的NOCT/OD 等所在的序列測(cè)試由