PHL應力雙折射測量儀WPA-200-MT

時間：2020-05-13

作者：北京歐屹科技有限公司

詞條
詞條說明
PHL應力雙折射儀PA-300-MT
PA-300-MT 簡介： PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其**技術的光子晶體偏光陣列片，*有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的**選擇。 PA-300-MT主要特點：
新品發布-ELIONIX納米壓痕儀
可以獲得薄膜、極性表面和微小區域的硬度和彈性模量等機械性能。?由于分析載荷和位移曲線以確定特性，因此*觀察壓痕。符合ISO 14577-1/JIS Z 2255標準外部及內部溫度控制防震機構壓頭校正、溫度校正日常檢測提醒數據再現性 ?該機制可抑制振動和溫度變化等外部干擾的影響，提高數據的再現性 ?即使在連續測量中也能實現穩定的高負荷單元和低負載單元的更換方便 ?通過更換設備進行設備校準
PHL應力雙折射測量儀WPA-200-MT
WPA-200-XL簡介： WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶體制造技術開發的產品，*特的測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為**的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，較適合用來測量光學薄膜或透明樹脂,量化測量結果，二維圖表可以較直觀的讀取數據。 WPA-200
新品發布-VR鏡頭專用應力雙折射測量設備
PHL公司較新推出一款**于VR鏡片的的評估設備WPA-VR ，適應于研發和在線式檢測。1，斯托克斯參數S3的面分布測量。Pancake鏡片薄型化的技術，在于鏡頭內含有控制整體偏光的偏光片與QWP(1/4玻片)結構。藉由表示綜合偏光控制性能的斯托克斯參數S3的整面分布信息可以評估模材貼合時的皺褶、氣泡等缺陷狀況2， RGB三原色測量，利用三原色量測，可了解各色狀態下QWP的相位差及S;差異狀況三