X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：650

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線熒光光譜儀常見(jiàn)有那幾種分類

  波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開(kāi)，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。 一種射線式

• X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

  X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直

• rohs檢測(cè)儀技術(shù)原理有哪些

  RoHS檢測(cè)儀目前市場(chǎng)上常見(jiàn)的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長(zhǎng)色散型，能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長(zhǎng)色散型簡(jiǎn)單，現(xiàn)市場(chǎng)上比較常見(jiàn)，其技術(shù)原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或「射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射該原子所固有能量的X射線特征X射線。元素含量與特征X射線強(qiáng)度的關(guān)系不同元素特征X射線能量各不相同，依此進(jìn)