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SDD還是PIN:您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器?在購買手持式XRF分析儀時,確定需要硅漂移探測器(SDD)還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。科邁斯KMX-RAY?XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測器:K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測器(美國MOXTEK),而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測器(德國KETEK)。SDD對比PIN:它
利用手持式光譜儀K-8000檢測金屬板狀、塊狀、帶狀、方管狀、中等規格柱狀和錐體狀(截面)材料等易獲得能完全覆蓋測量窗口(和接觸窗口)的檢測面,進而**較佳檢測結果,測試圓管(柱)狀、錐管狀等材料時,軸向測試**切線向,直徑大于11 mm時,兩個方向的檢測結果基本一致(直徑在12~63 mm之間時,接觸窗口切線向沒有感應);檢測小規格柱狀、管狀以及絲狀材料,適當延長測試時間,并用已定值的實物樣品校
手持式光譜儀的濾光片對測樣結果有什么影響?在手持式光譜儀廠商提供的參數表中,會有一項叫做“濾光片”的參數,往往會寫一些元素名稱,比如鋁Al, 鎢W等。在諸如檢測鋁合金、土壤等材料的過程中,經常會聽到“滋~滋~”聲,這其實是手持式光譜儀內部電機轉動的聲音,在切換不同的濾光片。那么,濾光片對我們檢測的材料,檢測的元素到底有什么影響?科邁斯手持式光譜儀K-8000中光管、濾光片、樣品三者的結構示意圖&n
手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器,主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術,X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子,出現殼層空穴,當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量
公司名: 科邁斯(深圳)科學儀器有限公司
聯系人: 肖
電 話: 0755-23144148
手 機: 18124653232
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地 址: 廣東深圳寶安區深圳市寶安區沙井街道后亭社區*二工業區56號長安大廈1116
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