實(shí)驗(yàn)周期縮短，只因有它“汽車環(huán)境模擬試驗(yàn)室”

時(shí)間：2022-08-04作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：221

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 低氣壓試驗(yàn)條件和標(biāo)準(zhǔn)

  1、試驗(yàn)氣壓GJB 150不適用于飛行高度**過(guò)30 000m的航天器、飛機(jī)或?qū)an上的裝備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值。對(duì)比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗(yàn)條件有一

• 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱/低氣壓試驗(yàn)箱/高低溫循環(huán)濕度高度綜合試驗(yàn)箱/高度真空試驗(yàn)箱

  簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫，高度（不**海拔30000米或45000米）以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)和溫度－高度綜合試驗(yàn)，高、低溫試驗(yàn)時(shí)本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化。 QD系列技術(shù)參數(shù) 型號(hào) QD6025 QD605 QD61 QD62? &

• PCB的環(huán)境測(cè)試有哪些類型

  高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見(jiàn)測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中，PCB在

• 顯示器技術(shù)比較表：

  顯示器技術(shù)比較表： ? TFT PDP FED OELD或OLED LTPS LED ELD TN STN 英文全稱 Thin Film Transistor LCD Plasma Display Panel Field Emission Display Organic Electro- Luminescene Display Low Temperature Poly-Silicon