什么是低氣壓試驗？

時間：2023-06-13

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
芯片研發過程中的可靠性測試有哪些
一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質認證測試的關鍵部分。溫度循環：根據 JED22-A104 標準，溫度循環 (TC) 讓部件經受較端高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時，將部件反復暴露
太陽能測試條件
太陽能測試條件 ? 太陽能模塊可靠度試驗(太陽能電池) ?? 目的：太陽光電模塊的設計使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗是仿真陸上太陽光電模塊(硅結晶)的設計驗證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上。太陽能模塊試驗規范列表： IEC6125-陸地用太陽能電器元件環境試驗方法(GB-9535) GB 9535-陸地用太陽能電池元件環境試驗方法 GB 19
小型環境試驗箱
小型環境試驗箱 ? 研究開發用較佳伙伴。適用標準：GB/T2423.1 / IEC60068-2-1、GB/T2423.3 / IEC60068-2-78、GB/T2423.4 / IEC60068-2-30、GB/T2423.34 / IEC60068-2-38、JESD22-A100-C、JESD22-A101-C。 ? 輕巧緊湊，機身小容積大占地小體重輕，可2臺疊放
高低溫低氣壓試驗箱使用條件
高低溫低氣壓試驗箱使用條件之一：環境條件 1、溫度：15℃～35℃; 2、相對濕度：不大于85%; 3、大氣壓：80kPa～106kPa 4、周圍無強烈振動，無腐蝕氣體； 5、無陽光直接照射或其他冷、熱源直接輻射； 6、周圍無強烈氣流，當周圍空氣需強制流動時，氣流不應直接吹到箱體上； 7、周圍無干擾試驗箱控制電路的磁場影響； 8、周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質。高低溫低氣壓試驗箱使用條件之二：