天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀

時間：2024-09-10作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：46

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• 天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀

  天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀詳細(xì)資料介紹，天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀型號和報(bào)價(jià)請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售的天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀edx1800b測試設(shè)備，針對EDX 1800B在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800E。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。應(yīng)用領(lǐng)域包括：RoH

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個領(lǐng)域的便攜測試分析，連接便攜藍(lán)牙打印設(shè)備，可以現(xiàn)場出具測試報(bào)告。手持XRF分析儀光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢超大樣品測試當(dāng)樣品體積太大，且不能切割取樣時，普通臺式儀器無法對其進(jìn)行RoHS等有害元素的有效測試，此時手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對其表面進(jìn)行測試，使用更方便快捷，大大提高了檢測效率。玩具樣品測試玩其樣品多

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動切換的準(zhǔn)直