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I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計(jì)未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送更高的性能以及更好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&
PCIe 協(xié)議分析儀 PGY-PCIeGen3/4-PA 是Prodigy公司推出較新款的PCIe 協(xié)議分析儀,支持較高 PCIe Gen4 速度,輕松覆蓋2.5、5.0、8 和 16GT/s物理信號(hào)捕捉并譯碼,記錄數(shù)據(jù)事件軌跡和自動(dòng)生成測試報(bào)告,滿足工程師研發(fā)和測試要求。此外,Prodigy提供在源端與終端間使用interposer方案,方便用戶焊接。 PCIe Gen4 協(xié)議分析儀的軟件支持傳
調(diào)試eMMC啟動(dòng)失敗:使用 PGY-SSM 捕獲和分析啟動(dòng)數(shù)據(jù)
嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲(chǔ)中的啟動(dòng)序列來加載固件并將控制權(quán)移交給應(yīng)用程序代碼。然而,錯(cuò)誤配置的分區(qū)、損壞的啟動(dòng)數(shù)據(jù)或意外的?eMMC響應(yīng)可能會(huì)破壞此過程,導(dǎo)致難以使用標(biāo)準(zhǔn)工具診斷的靜默故障。 借助PGY-SSM SD/SDIO/eMMC 協(xié)議分析儀,您可以實(shí)時(shí)捕獲整個(gè)啟動(dòng)交互,準(zhǔn)確查明問題所在,并可視化關(guān)鍵協(xié)議事件,而*中斷被測設(shè)備。為什么 eMMC 啟動(dòng)失敗難以調(diào)試·低級(jí)通信:在掛
產(chǎn)品功能 UFS4.0協(xié)議分析儀(PGY-UFS4.0-PA)是一種具有多種功能,可捕獲和調(diào)試主機(jī)與被測設(shè)計(jì)(DUT)之間的通信的協(xié)議分析儀。UFS4.0協(xié)議分析儀是同類產(chǎn)品中基于值的分析儀,可捕獲和調(diào)試MPHY、UniPro 和UFS協(xié)議層的數(shù)據(jù)。它允許對(duì)UFS層、UniPro層和 MPHY層進(jìn)行即時(shí)解碼,并能靈活地在這些協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)解碼數(shù)據(jù)。 UFS4.0協(xié)議分析儀是業(yè)內(nèi)一個(gè)可運(yùn)行并經(jīng)過測試
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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電 話: 19926571623
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