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偏光應(yīng)力儀的工作原理偏光應(yīng)力儀大量應(yīng)用于玻璃、塑料等透明材質(zhì)的內(nèi)部應(yīng)力檢測。長期以來該儀器的校準(zhǔn)一直難以實施,本文介紹了基于光強法的光學(xué)相位延遲的量值復(fù)現(xiàn)原理及相應(yīng)的測量裝置,闡述了光學(xué)相位延遲量值的傳遞過程和相關(guān)問題。玻璃等透明材料存在的內(nèi)部應(yīng)力是這些材料的較為重要的物理指標(biāo)。該應(yīng)力的存在不僅導(dǎo)致材料表面會隨時間而慢慢變形,嚴(yán)重影響成像質(zhì)量,而且應(yīng)力分布不均勻嚴(yán)重時還會引起自爆。近期發(fā)生的玻璃幕
三坐標(biāo)測量儀測量方法三坐標(biāo)測量機(CMM)的測量方式通常可分為接觸式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。其中,接觸測量方式常用于機加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數(shù)據(jù),或為逆向工程提供工件原始信息,經(jīng)常需要用三坐標(biāo)測量機對被測工件表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點掃描。以三坐標(biāo)的FOUNCTION-PRO型三坐標(biāo)測量機為例,介紹三坐標(biāo)測量機的幾種常用掃描方法及其操作步驟。三坐標(biāo)測量機的
殘余應(yīng)力儀原理是什么?1、X射線衍射法測量殘余應(yīng)力的原理:基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ :即一定波長的X射線照射到晶體材料上,相鄰兩個原子面衍射時的X射線光程差正好是波長的整數(shù)倍。通過測量衍射角變化Δθ從而得到晶格間距變化Δd,根據(jù)胡克定律和彈性力學(xué)原理,計算出材料的殘余應(yīng)力。2、盲孔法測量殘余應(yīng)力的原理:假設(shè)一個各向同性材料上某一區(qū)域內(nèi)存在一般狀態(tài)的殘余應(yīng)力場,其較大、較小主應(yīng)力分別為
1、?X向橫梁:采用精密斜梁技術(shù)。2、Y向?qū)к墸翰捎?特的直接加工在工作臺上的整體下燕尾槽定位結(jié)構(gòu)。3、導(dǎo)軌方式:采用自潔式預(yù)載荷高精度空氣軸承組成的四面環(huán)抱式靜壓氣浮導(dǎo)軌。4、驅(qū)動系統(tǒng):采用本產(chǎn)高性能DC直流伺服電機、柔性同步齒形帶傳動裝置,各軸均有限位和電子控制,傳動較快捷、運動性能較佳。5、Z向主軸:可調(diào)節(jié)的氣動平衡裝置,提高了Z軸的定位精度。6、控制系統(tǒng):采用進(jìn)口的雙計算機三座標(biāo)
公司名: 深圳瑞程科技有限公司
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