半導體芯片產品貯存環境指南

時間：2023-07-08

作者：廣東宏展科技有限公司

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顯示器技術比較表：
顯示器技術比較表： ? TFT PDP FED OELD或OLED LTPS LED ELD TN STN 英文全稱 Thin Film Transistor LCD Plasma Display Panel Field Emission Display Organic Electro- Luminescene Display Low Temperature Poly-Silicon
工業電腦常用可靠度測試
工業電腦是磚供工業界使用的工業控制計算機，其基本性能及相容性與商用電腦相差無幾，但工業電腦更多的是注重在不同環境下的穩定性，為人機界面和生產流程控制提供了Z佳的解決方案。產品必須符合客戶對工作環境的特殊需求，如溫（濕）度、防水（塵）性、穩壓系統、不斷電系統需求等進行特殊設計、調整，因此廠商必須具備相當研發、生產、測試、行銷與系統整合能力，具有一定的技術門檻。?（一）寬溫測試測試條件1.
高低溫試驗箱常見故障的解決方法
高低溫試驗箱是一種高精度的實驗設備，常見的故障包括：1. 溫度控制不準確：可能是因為溫度傳感器損壞或校準不正確，需要更換或重新校準傳感器。2. 制冷系統故障：可能是因為制冷劑泄漏、壓縮機故障等原因導致制冷系統故障，需要檢查并進行維修。3. 加熱系統故障：可能是因為加熱器損壞或電路故障導致加熱系統故障，需要更換或修復加熱器或電路。4. 濕度控制不準確：可能是因為濕度傳感器損壞或校準不正確，需要更換或
半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用