推薦一款新的應(yīng)用于大電流的小間距微針模組

時(shí)間：2019-07-10作者：深圳市鴻怡電子有限公司瀏覽：85

深圳市鴻怡電子有限公司專注于IC插座/連接器,EMMC測(cè)試燒錄座,TSOP48老化座,卡座,QFN燒錄老化座,SOP燒錄老化座端子板等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 芯片測(cè)試座的結(jié)構(gòu)、用途和特性

  芯片測(cè)試座，又稱IC socket，芯片測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路芯片的工具，它使用一種特殊的結(jié)構(gòu)，將芯片的各個(gè)端口連接到外部的測(cè)試設(shè)備。 芯片測(cè)試座的主要作用是幫助設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)集成電路時(shí)，能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試其芯片的性能。 芯片測(cè)試座的定義可以從三個(gè)方面來(lái)看：結(jié)構(gòu)、用途和特性。 首先，芯片測(cè)試座的結(jié)構(gòu)指的是芯片測(cè)試座的組成結(jié)構(gòu)，一般由底座、支架、端子座等部件組成。 其次，芯片測(cè)試座的用途是

• 推薦一款新的應(yīng)用于大電流的小間距微針模組

  目前市場(chǎng)上手機(jī)，平板電腦的應(yīng)用如此廣泛，各類電池的需求量也是巨大。 而針對(duì)電池的測(cè)試，據(jù)了解，目前各大自動(dòng)化設(shè)備廠商和電池生產(chǎn)廠家均還是是采用傳統(tǒng)的連接器公母座對(duì)扣的方式。這種做法雖然板子成本低，但是使用的次數(shù)只有幾十次。在測(cè)試中會(huì)有以下問(wèn)題，首先測(cè)試效率低下，其次，使用壽命短，只有50次左右。再次，測(cè)試中會(huì)對(duì)電池的FPC connector有損傷，而且會(huì)有誤測(cè)現(xiàn)象，從而導(dǎo)致不良品通過(guò)測(cè)試。不僅生

• 鋰電池測(cè)試中，優(yōu)選彈片微針模組

  在針對(duì)鋰電池連接器的測(cè)試上，大電流彈片微針模組受到了越來(lái)越多客戶的關(guān)注以及**。原因無(wú)他，較高的耐電流能力，以及較小的測(cè)試阻抗，都是鴻怡電子的大電流彈片微針模組讓客戶信賴的閃光點(diǎn)。 為何探針無(wú)法制作成大電流微針模組？較主要的原因在于尺寸與電阻。小尺寸的探針電阻大，可過(guò)電流范圍小，而大尺寸的探針過(guò)流范圍變大，但由于尺寸變大了，無(wú)法適應(yīng)小pitch值，故無(wú)法制作成微針模組。而由鴻怡電子研發(fā)的大電流BT