光束分析儀選型，預(yù)防EAR

時(shí)間：2020-04-22作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：304

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  詞條說明

• 掃描狹縫式光束分析儀與相機(jī)式光斑分析儀的區(qū)別

  ? ? ?對(duì)于光束分析儀的早期設(shè)備，掃描狹縫式光束分析儀或刀口式光束分析儀是唯一可用的光束分析儀器設(shè)備選項(xiàng)。掃描狹縫式光束分析儀用于分析近高斯光束的橢圓(或圓形)自由空間光束，根據(jù)光束直徑采用掃描狹縫或刀口技術(shù)。然而，隨著CCD和CMOS傳感器的出現(xiàn)，相機(jī)式光斑分析儀雖然逐步地應(yīng)用于激光光束分析儀，但掃描狹縫檢測(cè)器仍在少數(shù)激光光束特性分析應(yīng)用中使用，而在這些應(yīng)用中它們

• Alluxa開發(fā)出新的這項(xiàng)擴(kuò)展光譜性能工藝

  ALLUXA 推出具有擴(kuò)展光譜性能的突破性PVD濾光片加工工藝，這項(xiàng)加工技術(shù)將用于紫外到紅外的濾光片以高性能光學(xué)鍍膜以及濾光片的廠商ALLUXA，近日推出了擴(kuò)展光譜光學(xué)鍍膜性能的突破性能力，他們所制造開發(fā)的下一代SIRRUS?等離子體物理氣相沉積平臺(tái)現(xiàn)在可以提供紫外線到紅外的全光譜覆蓋，這項(xiàng)加工工藝將使ALLUXA濾光片擁有更加陡峭的曲線邊緣，更高的透射率和更甚的阻擋等級(jí)，同時(shí)保持精確的波長(zhǎng)控制和

• 性能不變減少功耗的DioneS1280紅外相機(jī)

  Xenics團(tuán)隊(duì)在2021年經(jīng)歷了輝煌的一年：Dione和CeresT系列發(fā)布了兩款新的LWIR產(chǎn)品，以及Bobcat320系列的四款新SWIR產(chǎn)品。在2022年，Xenics不停下腳步，并且有望實(shí)現(xiàn)更大的發(fā)展，繼續(xù)穩(wěn)步增長(zhǎng)，并會(huì)展示出更好的產(chǎn)品，讓用戶更加信任我們Xenics今天發(fā)布了新型高分辨率非制冷長(zhǎng)波紅外相機(jī)新核心——DioneS1280。DioneS1280是一款SXGALWIR相機(jī)的核

• 線激光元件被用于晶圓檢測(cè)

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個(gè)主要問題，這會(huì)降低產(chǎn)量并耗費(fèi)生產(chǎn)的時(shí)間和成本。因此，檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計(jì)量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測(cè)的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場(chǎng)/明場(chǎng)顯微鏡來檢測(cè)缺陷，通常在深紫外（DUV）波長(zhǎng)下檢測(cè)100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時(shí)，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而