絕熱材料的檢測項目與檢測標準

時間：2025-07-18作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測技術有限公司瀏覽：205

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• 一文看懂LED燈需要做哪些檢測

  一、 LED燈具測試參考依據 《GB 7000.1-2015燈具 *1部分：一般要求與試驗》 《整體式LED路燈的測量方法》 《外殼防護等級(IP代碼)GB/T 4208-2017》 二、測試時的檢驗項目 1、力學測試： a)拉力試驗 b)壓力試驗 c) 插拔力試驗 d)耐磨擦試驗 e)模擬運輸振動試驗 2、 電性能參數： a) 工作電壓。 b) 工作電流。 c) 功率。 d) 功率因素。 e)

• 2020年諾貝爾物理學獎授予發(fā)現黑洞的3位科學家

  北京時間10月6日下午6時許，2020年諾貝爾物理學獎揭曉。Roger Penrose、Reinhard Genzel、Andrea Ghez獲獎。英國科學家Roger Penrose“由于發(fā)現黑洞的形成是廣義相對論的一個有力預測”而被授予了諾貝爾物理學獎。德國科學家和美國科學家Reinhard Genzel、Andrea Ghez因“在銀河系中心發(fā)現了一個**大質量的致密物體”而被授予諾貝爾物理學

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會出現失效。失效就意味著電路可能出現故障，從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時定位到元器件的故障原因，就能及時排除故障，讓設備正常運行。 ?溫度導致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導體器件的影響： 由于P

• 材料檢測表征方法之掃描電鏡

  材料檢測表征方法之掃描電鏡 自從1965年**臺商品掃描電鏡問世以來，經過40多年的不斷改進，掃描電鏡的分辨率從**臺的25nm提高到現在的0.01nm，而且大多數掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合，成為一種對表面微觀世界能夠經行全面分析的多功能電子顯微儀器。 在材料領域中，掃描電鏡技術發(fā)揮著較其重要的作用，被廣泛應用于各種材料的形態(tài)結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究