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磁感應測量原理采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測
2020年7月3日,由艾邦智造主辦的《*二屆5G陶瓷介質濾波器高峰論壇》成功舉辦。在本次高峰論壇的展臺區,江蘇天瑞儀器股份有限公司展出了5G陶瓷介質濾波器鍍銀層厚度的檢測設備,這款X熒光鍍層測厚儀采用X射線的方法檢測,據介紹,這款X熒光鍍層測厚儀在5G濾波器鍍銀層厚度的檢測領域較大的優勢有兩點:1、測試速度快,一般測試時間為10S;2、無損檢測,*損壞樣品就可以檢測出銀層厚度。X熒光鍍層測厚儀T
大型多道直讀光譜儀采用PMT作為檢測器,必須配合出縫來選擇光譜,受制于光譜強度、出縫的加工和光學調試難度等因素的影響,出縫寬度通常在50μm左右,影響了多道光譜儀的分辨能力。多道光譜儀的主要特點:1)多采用PMT檢測器,具有噪聲低、動態范圍大的優點,特別適合高**屬的分析;2)數據讀出速度快,可實現光譜時域解析(TRS)、單火花評估等功能,從而滿足酸溶物和夾雜物等特殊分析需求;3)定制化生產,通道
火花直讀光譜儀和手持式光譜儀有哪些區別手持式光譜儀工作原理:當一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內層的電子上,這個X射線束是由手持式光譜儀內的X射線管產生的,這個X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發后從原子殼內層軌道發生位移,這種位移的發生是由于從分析儀發出的X-射線束與在適當的軌道保持電子結合能發出的能量差;當X射線束的能量**電子結合能就會發生位
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 劉經理
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手 機: 13338643566
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