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在激光加工領域中,普遍需要得到能量均勻分布的正方形的勻化光斑。針對這一類激光勻化需求,我司推出過雙微透鏡陣列的勻化方案。該方案使用的是兩片子單元為正方形的微透鏡陣列,該方案中的光路調試過程中,兩片微透鏡陣列的子單元要求對準,對調試的精度要求稍微偏高。現我司推出使用兩片柱面微透鏡得到正方形勻化光斑的方案,降低了對調試的精度要求。本文針對后者勻化方案作了簡要介紹。常見的雙微透鏡勻化光路,如下圖所示:激
平頂光束整形器是一種衍射平面光學元件,它接收單模高斯光束作為輸入,并輸出一個具有可控形狀(正方形、矩形、線形或圓形圖像)的平面光強光斑。平頂光束整形器能夠切割薄膜,減少熱影響區和提高效率,如OLED薄膜。隨著有機發光二極管(OLED)屏幕需求的不斷增長,人們要求更高的功率和更好的加工質量,便開始尋找更好的激光薄膜切割解決方案。制造商目前面臨的問題之一是減少切口邊緣的熱影響區(HAZ)。為緩解這一問
近日Xenics推出了新型長波紅外(LWIR)相機產品,型號Ceres T 1280,該型號相機繼承了一貫的高性能、高分辨率Ceres T 1280是一款SXGA(1280×1024像素)長波紅外相機,專用于熱成像,具有非常高的精度和穩定性能。Ceres T 1280的出現,代表Xenics正在擴展高性能熱像儀系列產品。該產品適用于過程監控、工業機器視覺、醫療或科學等要求高分辨率和高端熱成像能力的
Alphalas UPD系列超快光電探測器覆蓋170至2600nm的光譜范圍,是激光和光子學研究不可或缺的工具。但是在運輸的過程中難免會出現損壞的情況,需要進行超快光電探測器檢測。本文主要介紹對UPD超快光電探測器的一般功能的簡單測試,幫助客戶在使用前判斷UPD光電探測器的好壞。所有光電二極管均封裝在緊湊堅固的鋁制外殼中,并可通過電池或外部電源進行偏置。以下是UPD超快探測器檢測的簡單判斷:1.
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