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隨著科學技術的進步,在60年代初發明了半導體探測器以后,對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產生原級X射線照射到樣品上,所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器,便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的
江蘇一六儀器生產的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀,可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區RoHS檢測及多元素成分分析,**的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。1. 微小樣品檢測:較小測量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-90mm ;3. *的EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3
多導毛細聚焦技術在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優勢
隨著電子技術的飛速發展,集成電路(Integrated Circuits,IC)的封裝工藝也在不斷演進,為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性,鍍層測厚及成分分析成為了至關重要的環節。在這個背景下,多導毛細聚焦技術正嶄露頭角,以其優勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現出巨大潛力。?多導毛細聚焦技術是一種**的分析方法,主要利用X射線全反射原理,從X射線管激發出來的X射線束在毛
光譜分析儀簡稱光譜儀,是將成分復雜的復合光分解為光譜線并進行測量和計算的科學儀器,被廣泛應用于輻射度學分析、顏色測量、化學成份分析等領域,下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成,其工作原理是將光源發出的復色光按照不同的波長分離出來,配合各種光電探測器件對譜線強度進行測量,獲得光譜功率(輻射)分布,再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量等光色性能
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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