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X原子熒光和原子吸收光譜儀的區別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測元素所產生的基態原子對其特征譜線的吸收程度來進行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈,檢測的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。發射源是Rh靶X光管,盡管二者都是把物質激發后檢測其熒光,但二者的區別很大
金屬鍍層測厚儀的原理與應用金屬鍍層測厚儀是現代工業中不可或缺的精密測量設備,它通過非破壞性方式快速準確地檢測金屬表面鍍層厚度。這類儀器在汽車制造、電子工業、航空航天等領域有著廣泛應用,為產品質量控制提供了可靠**。鍍層測厚技術主要分為磁性法和渦流法兩大類。磁性法適用于測量非磁性基體上的磁性鍍層厚度,如鋼鐵表面的鍍鋅層;渦流法則用于測量非導電基體上的非磁性金屬鍍層厚度,如塑料表面的鍍銅層。現代測厚
鍍層膜厚檢測技術的核心要點 鍍層膜厚分析儀是工業生產中不可或缺的檢測工具,主要用于測量金屬或非金屬基材表面鍍層的厚度。其應用范圍涵蓋電子、汽車、航空航天等領域,確保產品質量符合標準。 鍍層膜厚分析儀的關鍵技術在于測量精度和適用性。常見的測量方法包括X射線熒光法、渦流法和超聲波法。X射線熒光法適用于多層鍍層測量,精度高但設備成本較高;渦流法適用于導電基材上的非導電鍍層,速度快但受基材影響較大;超聲波
表面鍍層分析儀的關鍵技術與應用場景 表面鍍層分析儀是一種用于檢測材料表面鍍層厚度、成分及結構的精密儀器,廣泛應用于電子、汽車、航空航天等領域。其核心技術包括X射線熒光光譜(XRF)、光學干涉測量和電化學測試等,能夠快速、無損地獲取鍍層數據,確保產品質量符合標準。 鍍層分析的核心技術 X射線熒光光譜(XRF)是目前較常用的鍍層分析技術,通過測量鍍層材料受激發后釋放的特征X射線,精確計算鍍層厚度和成
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 張先生
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地 址: 上海奉賢上海奉賢
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ROHS測試儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS有害物質分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS有害元素檢測儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS2.0分析儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
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ROHS環保檢測儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析