鼠標(biāo)、鍵盤等信息技術(shù)設(shè)備做CE認(rèn)證 | 費(fèi)用與周期等

時(shí)間：2020-05-14作者：深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司瀏覽：105

深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司專注于CR認(rèn)證,CE認(rèn)證,防止兒童打開包裝測(cè)試等

• 詞條

  詞條說明

• 供應(yīng)防止兒童打開包裝測(cè)試 | 常見標(biāo)準(zhǔn)與作用

  防止兒童打開包裝測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)： 美國(guó)消費(fèi)品安全**16 CFR*1700部分-家用物質(zhì)特殊包裝的要求 ASTM D3475-18：耐兒童包裝-可重復(fù)打開包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN ISO 8317:2004 -耐兒童包裝-可重壓包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN 14375:2003 -用于制藥產(chǎn)品的耐兒童的不可重壓包裝 EN 862:2005 -包裝。耐兒童包裝。非制藥產(chǎn)品不可重蓋包裝的要求和試驗(yàn)程

• CE-EMC測(cè)試項(xiàng)目與所需資料

  一、概念 EMC(電磁兼容性)的全稱是Electro Magnetic Compatibility， 其定義為“設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力” 該定義包含兩個(gè)方面的意思，首先，該設(shè)備應(yīng)能在一定的電磁環(huán)境下正常工作， 即該設(shè)備應(yīng)具備一定的電磁抗擾度(EMS); 其次，該設(shè)備自身產(chǎn)生的電磁騷擾不能對(duì)其他電子產(chǎn)品產(chǎn)生過大的影響，即電磁騷擾(EMI)。

• CE-LVD常見問題與相關(guān)知識(shí)

  一、LVD認(rèn)證是什么 LVD（Low Voltage pirective）,低電壓指令。 2014年3月29日，歐盟官方期刊公布了新版本低電壓指令2014/35/EU，用以替換原有低電壓指令2006/95/EC。新指令2014/35/EU將于2016年4月20日起執(zhí)行。LVD 認(rèn)證的目標(biāo)為確保低電壓設(shè)備在使用時(shí)的安全性。低電壓設(shè)備的定義為額定電壓為交流電時(shí)50到1000伏特間，直流電時(shí)75到150

• 風(fēng)扇、電話機(jī)等電器做RoHS | 貝德檢測(cè)-費(fèi)用與周期

  RoHS是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(Restriction of Hazardous Substances)。該標(biāo)準(zhǔn)已于2006年7月1日開始正式實(shí)施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之較加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。 該標(biāo)準(zhǔn)的目的主要在于檢測(cè)電機(jī)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚（注意：PBDE正確的