掃描電子顯微鏡SEM

時間：2022-03-05作者：昂星新型碳材料常州有限公司瀏覽：723

昂星新型碳材料常州有限公司專注于倍半硅氧烷,多孔碳材料,改性石墨烯,晶須,散熱膜濾餅,氧化石墨烯,昂星等

• 詞條

  詞條說明

• 激光粒度儀

  一、產品概述名稱：激光粒度儀原理：通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。型號：Mastersizer 3000?二、產品應用：應用領域：適用于各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨

• 透射電子顯微鏡TEM

  一、產品概述名稱：透射電子顯微鏡TEM產品原理：由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和第1、*2投影鏡進行綜合放大成像，較終被放大了的電子影像投射在觀

• 普通XRD

  一、產品概述名稱：普通XRD產品原理：束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射，互相干涉而產生較大強度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應用布拉格公式：2dsinθ=nλ，應用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出

• 同步熱分析儀 STA

  一、產品概述名稱：同步熱分析儀STA原理：STA是測量樣品重量隨時間或溫度變化的一種儀器，需要將重量**值轉化為重量百分比坐標進行繪圖，有利益進行橫向或縱向樣品的比較。型號：鉑金埃爾默STA8000?二、產品應用：應用領域：廣泛用于研究測試和分析各種**物、無機物、高分子材料、高溫材料(金屬、礦物質、陶瓷和玻璃)、半導體材料、藥物、生物材料等物質或過程的熱事件。