UFS 4.0 在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用：為下一代汽車提供動(dòng)力

時(shí)間：2025-06-16作者：深圳市歐奧電子科技有限公司瀏覽：24

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 示波器測(cè)試與協(xié)議分析儀測(cè)試的區(qū)別

  示波器測(cè)試與協(xié)議分析儀測(cè)試是電子通信領(lǐng)域中兩種互補(bǔ)但核心目標(biāo)差異顯著的測(cè)試手段，主要區(qū)別體現(xiàn)在測(cè)試對(duì)象、核心功能、關(guān)注重點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景等多個(gè)維度。以下從具體維度詳細(xì)對(duì)比：一、測(cè)試對(duì)象不同示波器：聚焦于物理層的電信號(hào)（或光信號(hào)的電轉(zhuǎn)換信號(hào)），直接測(cè)量電壓、電流等物理量隨時(shí)間的變化。 例如：電路板上的脈沖信號(hào)、總線的差分電壓（如 USB 的 D+/- 信號(hào)）、射頻信號(hào)的波形等。協(xié)議分析儀：聚焦于協(xié)議層的

• Prodidy Technovations 推出用于SD卡和eMMC設(shè)備的 AC/DC電氣驗(yàn)證解決方案

  Prodigy Technovations Pvt. Ltd，總部位于班加羅爾，推出了其 PGY-SSM-EV-Tester SD、eMMC AC/DC 電氣驗(yàn)證測(cè)試儀，用于UHS-I和eMMC for HS400（eMMC5.1）規(guī)范的SD卡的電氣特性。這種創(chuàng)新的解決方案使驗(yàn)證工程師能夠通過(guò)單擊按鈕來(lái)測(cè)試SD卡和eMMC器件的不同作模式，并表征 100 多種電氣和時(shí)序規(guī)格，從而節(jié)省大量驗(yàn)證時(shí)間。

• 如何通過(guò)Prodigy I3C協(xié)議調(diào)試簡(jiǎn)化DDR5內(nèi)存設(shè)計(jì)

  隨著 DDR5 內(nèi)存設(shè)計(jì)變得越來(lái)越復(fù)雜，在系統(tǒng)級(jí)別調(diào)試 I3C 協(xié)議問(wèn)題對(duì)于確保較佳性能變得至關(guān)重要。Prodigy Technovations 為實(shí)時(shí) I3C 協(xié)議分析和調(diào)試提供了強(qiáng)大的解決方案。為什么選擇 Prodigy 進(jìn)行 I3C 協(xié)議調(diào)試？l? 完整的I3C協(xié)議分析：輕松捕獲和分析復(fù)雜的I3C事務(wù)，確保您在設(shè)計(jì)過(guò)程中保持**地位。l? 無(wú)縫系統(tǒng)級(jí)調(diào)試：在系統(tǒng)級(jí)解決協(xié)議

• 如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測(cè)PMIC板子焊接問(wèn)題

  使用SPMI協(xié)議分析儀檢測(cè)焊接問(wèn)題，核心是通過(guò)信號(hào)完整性分析和協(xié)議交互異常定位來(lái)反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法：一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗(yàn)證o?探針配置：將分析儀的差分探針（如SCLK、SDATA、GND）正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳，確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊，探針接觸不良可能導(dǎo)致信號(hào)丟失或誤判。o?電源與地