如何提高系統(tǒng)的EMC、EMI性能

時(shí)間：2025-07-18作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：191

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 材料檢測(cè)表征方法之掃描電鏡

  材料檢測(cè)表征方法之掃描電鏡 自從1965年**臺(tái)商品掃描電鏡問(wèn)世以來(lái)，經(jīng)過(guò)40多年的不斷改進(jìn)，掃描電鏡的分辨率從**臺(tái)的25nm提高到現(xiàn)在的0.01nm，而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合，成為一種對(duì)表面微觀世界能夠經(jīng)行全面分析的多功能電子顯微儀器。 在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著較其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究

• 溫度試驗(yàn)這些知識(shí)，研發(fā)都該知道！

  溫度試驗(yàn)是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開(kāi)展的環(huán)境試驗(yàn)，但要真正做好溫度試驗(yàn)，需要掌握的知識(shí)內(nèi)容很多，本文介紹溫度試驗(yàn)主要知識(shí)點(diǎn)，供學(xué)習(xí)參考。 溫度對(duì)試件的影響 溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門(mén)，包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在較值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響，是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測(cè)試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度較值的耐受力。 高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過(guò)程中，常常會(huì)出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見(jiàn)元器件的失效原因和常見(jiàn)故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時(shí)定位到元器件的故障原因，就能及時(shí)排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對(duì)元器件的影響。 ?溫度變化對(duì)半導(dǎo)體器件的影響： 由于P

• 如何提高系統(tǒng)的EMC、EMI性能

  在研制帶處理器的電子產(chǎn)品時(shí)，如何提高抗干擾能力和電磁兼容性？ 1、下面的一些系統(tǒng)要特別注意抗電磁干擾： (1)微控制器時(shí)鐘頻率特別高，總線周期特別快的系統(tǒng)。 (2)系統(tǒng)含有大功率，大電流驅(qū)動(dòng)電路，如產(chǎn)生火花的繼電器，大電流開(kāi)關(guān)等。 (3)含微弱模擬信號(hào)電路以及高精度A/D變換電路的系統(tǒng)。 2、為增加系統(tǒng)的抗電磁干擾能力采取如下措施： (1)選用頻率低的微控制器 選用外時(shí)鐘頻率低的微控制器可以有效降