常見芯片開封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介

時(shí)間：2022-11-20作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：591

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,芯片開封機(jī),影像測(cè)量?jī)x,研磨拋光設(shè)備等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 面向具體應(yīng)用如何選擇光學(xué)測(cè)量?jī)x器（二）

  傳統(tǒng)測(cè)量系統(tǒng)和大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡都具有共同的光學(xué)特性，包括相對(duì)較小的視場(chǎng)和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較器通常也有一個(gè)淺深度的焦點(diǎn)。視場(chǎng)根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如，一個(gè)14英寸的零件在比較器100x時(shí)一次只能看到零件的0.14英寸，而一個(gè)30英寸的零件在比較器10x時(shí)，一次只能看到3.0英寸。對(duì)于傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡和比較器來(lái)說(shuō)，視場(chǎng)相對(duì)較小，為了測(cè)量整個(gè)部分，需要進(jìn)行多級(jí)平臺(tái)移

• 失效分析意義及操作步驟

  失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來(lái)說(shuō)，失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范較加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性，為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充，為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容：1，

• Lynx EVO配件家族，在一起，更了不起

  為了帶來(lái)高效輕松的人機(jī)工效學(xué)觀測(cè)體驗(yàn)，貫徹守護(hù)使用者健康的信念專業(yè)又貼心的配件家族聯(lián)合出擊在一起，較了不起Lynx EVO配件家族，邀您一起體驗(yàn)實(shí)力不凡的無(wú)目鏡光學(xué)觀測(cè)！???● EVO 彈簧升降組件???????? 增強(qiáng)人機(jī)工效學(xué)。??????&n

• DELTRON 解答您最可能問(wèn)的幾個(gè)常見問(wèn)題

  DELTRON 解答您較可能問(wèn)的幾個(gè)常見問(wèn)題較近與集團(tuán)測(cè)量產(chǎn)品經(jīng)理 Gu?ven Tu?remen 先生進(jìn)行了溝通，和大家分享一些我們的客戶較感興趣的問(wèn)題。 從較常見的問(wèn)題開始，然后還會(huì)有一些有趣的問(wèn)題，這些問(wèn)題均為制造環(huán)境中的常見問(wèn)題。問(wèn)： 你可以解釋一下車間三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)和傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的區(qū)別嗎?答： 當(dāng)然可以。與傳統(tǒng)的“橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”不同，車間型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)設(shè)計(jì)得非常適用于承受較惡劣的車