Alphalas的UPD**快光電探測器的功率密度計算

時間：2023-09-06作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：110

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• StellarNet光譜儀化學吸光度測量的配置和軟件操作的簡介

  用于化學應用的光譜儀StellarNet微型光譜儀允許在紫外-可見-近紅外波長范圍內進行低成本測量。這些儀器可以使用SpectraWiz套件測量物質的吸收、發射、熒光、透射、濃度和顏色。StellarNet化學吸光度系統可以可靠地測量吸光度和濃度，并在食品和飲料、石化、制藥、原材料行業有應用。基于StellarNet微型光譜儀的化學光譜測量系統，光譜儀配置還包括流通池、比色皿、探頭和探頭支架等。除

• 光束整形器被重點用于平頂光束整形用于激光材料加工

  平頂光是一種激光束，其強度分布平坦且均勻，具有鋒利的邊緣，能量迅速降至零。這種能量分布稱為平平頂式能量分布，對許多工業激光應用中非常有用。平頂能量分布可以是正方形、矩形、直線、圓形或任何其他形狀。平頂光束整形器是一種衍射光學元件，旨在將高斯單模激光束塑造成平頂激光束輪廓，我們可以使用平頂光束整形器將非平頂激光束轉換為平頂光能量分布。下文將解釋光束整形器的工作原理，并討論材料加工中平頂應用的兩個常見

• 雙微透鏡陣列方案的子單元孔徑對成像均勻性的影響

  成像型微透鏡陣列作為常用的光路勻化元件，具備適用波長廣，成本低，勻化效果好的特點。使用微透鏡陣列進行光路勻化的常見方案有兩種，一種是單片微透鏡陣列，即雙面微透鏡陣列或稱雙面復眼透鏡。另一種是兩片，平凸型的復眼透鏡的雙微透鏡勻化光路。本文針對后者的勻化方案中，探討了子單元相對孔徑對成像均勻性的影響。兩種微透鏡勻化光路的方案中，第一種單片微透鏡陣列的，由于單片雙面的緊湊結構，多用于集成式光路。但是其可

• 線激光元件被用于晶圓檢測

  在半導體行業中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此，檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要，這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當線沿徑向掃描時，晶圓旋轉，產生晶圓的大面積采樣，從而