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FTIR紅外光譜圖分析方法 FTIR紅外光譜譜圖比對分析有現成紅外譜圖庫參考,通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會面臨標準譜庫檢索導致的誤判 需要足夠多的化學分析、材料研發經驗來支撐 優爾鴻信,自1996年建立紅外光譜實驗室,并將實驗室研發技術,導入到一線生產中,幫助解決問題,積累一些經驗。 編輯:Amanda王莉
耐化學試劑檢測對電子電氣產品有著極其重要的意義。首先,從產品的安全性角度考慮。電子電氣產品在實際使用環境中可能會接觸到各種化學物質,如清潔用品、工業化學品、大氣中的污染物等。如果產品的外殼、內部元件等不能抵抗這些化學試劑的侵蝕,可能會導致安全隱患。例如,當電子設備的絕緣材料被化學試劑腐蝕后,其絕緣性能下降,容易引發短路,甚至可能造成火災、電擊等嚴重事故。通過耐化學試劑檢測,可以篩選出符合安全要求的
切片分析檢測在電子器件領域有著至關重要的作用。首先,切片分析能夠幫助確定電子器件的內部結構。電子器件通常是多層結構,包含各種材料如半導體、金屬、絕緣層等。通過切片分析,可以將器件沿特定方向切開,然后在顯微鏡下觀察其橫截面。這樣能夠清晰地看到各層的厚度、形狀、排列順序等細節。例如,在集成電路中,切片分析可以明確芯片內部不同功能區域(如邏輯單元、存儲單元等)的分布情況,以及它們之間的連接方式,包括金屬
考慮產品的使用環境首先,要明確產品實際的使用環境。如果電子電氣產品是用于戶外沿海地區,如海邊的通信基站設備、海洋船舶上的電子儀器等,這類產品直接暴露在高鹽霧濃度的環境中,需要選擇更嚴格的鹽霧腐蝕測試標準。例如,可能需要參照一些長期鹽霧暴露試驗標準,像 ASTM B117 標準中規定的連續噴霧測試方法,模擬長時間的高鹽霧濃度環境。而對于室內使用的電子電氣產品,如普通的家用電腦、電視等,其受到鹽霧腐蝕
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