優(yōu)爾鴻信成分分析|電子產(chǎn)品重金屬超標(biāo)怎么檢測(cè)？

時(shí)間：2025-09-04作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：434

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 中框陽(yáng)極麻點(diǎn)原因

  背景：客戶量產(chǎn)中框制程：Al6013鋁擠料→粗加工→納米注塑→CNC→拋光→陽(yáng)極染色。客戶發(fā)現(xiàn)陽(yáng)極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線狀麻點(diǎn)，不良率~10%。為此委托實(shí)驗(yàn)室分析陽(yáng)極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。01.樣品信息及分析方式1.問(wèn)題描述:客戶反饋量產(chǎn)中框制程時(shí)，發(fā)現(xiàn)陽(yáng)極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線狀麻點(diǎn)，不良率~10％。委托實(shí)驗(yàn)室分析陽(yáng)極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。圖1? 異常試樣測(cè)試項(xiàng)目、規(guī)范及設(shè)備信

• 影響金屬涂層的失效原因有哪些-富士康華南檢測(cè)中心

  導(dǎo)致金屬涂層的失效的主要因素有：光降解老化、水降解老化、涂層發(fā)泡、起鼓問(wèn)題等因素導(dǎo)致。?金屬涂層失效原因分析，有助于優(yōu)化涂層厚度、涂層表面處理工藝提升、表面涂層壽命延長(zhǎng)。?更多金屬涂層失效分析，建議尋找當(dāng)?shù)貙?shí)驗(yàn)室資源，獲得合適的建議再做優(yōu)化調(diào)整。?編輯:Amanda王莉

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  玻璃制品接觸角檢測(cè)常用以下幾種方法：一、躺滴法這是最常見(jiàn)的方法之一。將少量液體（通常是水或測(cè)試用的試劑）滴在玻璃制品的平整表面上，讓液滴自然地在表面鋪展。通過(guò)光學(xué)儀器（如接觸角測(cè)量?jī)x）從側(cè)面觀察液滴的形狀。根據(jù)液滴與固體表面接觸點(diǎn)處的切線和固體表面之間的夾角來(lái)確定接觸角。這種方法簡(jiǎn)單直觀，適用于大多數(shù)平整的玻璃表面。對(duì)于具有一定潤(rùn)濕性的玻璃，能夠快速地得到接觸角數(shù)據(jù)。但是它對(duì)液滴的大小、形狀以及放

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|常見(jiàn)的IC檢測(cè)設(shè)備有哪些？

  以下是一些常見(jiàn)的 IC 檢測(cè)設(shè)備：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）功能：可自動(dòng)對(duì) IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷，能精確測(cè)量和評(píng)估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo)，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試流程大幅提高測(cè)試效率，支持多種測(cè)試模式和程序以滿足不同測(cè)試需求，并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)，如 SoC 測(cè)試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試；存