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工業 CT(計算機斷層掃描)掃描檢測在電路板領域有諸多重要應用。首先,在電路板的內部缺陷檢測方面表現出色。電路板內部的線路、焊點以及各種電子元件之間的連接情況復雜。工業 CT 掃描能夠穿透電路板,清晰地呈現出內部結構,例如可以檢測出內部線路是否存在斷路、短路情況。對于隱藏在多層電路板中間層的線路缺陷,傳統檢測方法很難發現,而工業 CT 可以精確地定位微小的斷路點或者線路之間的異常連接,像是因生產過
金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法?它們的精度和適用范圍分別是怎樣的?
光學顯微鏡法原理和操作:這是最基本的方法。通過對金屬材料進行適當的金相制備(如切割、研磨、拋光和腐蝕),使晶粒邊界顯現出來,然后在光學顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能,可以直接測量晶粒的尺寸。精度:精度相對較低,一般可以精確到微米級別。例如,對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能夠得到比較準確的測量結果,但對于亞微米級別的晶粒,測量就比較困難。適用范圍:適用于晶粒尺寸較大(通常大于 1
背景:客戶生產的主板上的BGA在*二次過爐后出現開裂現象,斷裂發生在組件側。故委托實驗室進行分析,以便找到失效原因。?分析結果:?1.熒光劑浸泡+冷拔+斷口分析結果,排除“金脆”引發BGA開裂的可能性。?2.動態翹曲度測試結果表明,PCB四連板在加熱過程中變形明顯,呈現中間下凹、左右兩邊上凸的形態。且其在冷卻完成后翹曲較嚴重。3.開裂焊點統計結果顯示,開裂多發生在未植
作為化學成分檢測第三方機構,優爾鴻信,在電子產品、汽車材料零部件、半導體材料、電子元件、塑料原料、金屬材料、產品工業、整機環保管控等領域,針對重金屬超標測試,已有成熟的分析方案。常用重金屬含量測定方法有:XRF熒光光譜法、ICP電感耦合等離子體光譜法、ICP-MS電感耦合等離子質譜法、AAS原子吸收法、UV紫外可分光光度法等。XRF熒光光譜法,具有快速、無損檢測表面成分的優勢。ICP電感耦合等離子
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