詞條
詞條說明
東莞噪音測試 噪聲檢測方法環境噪聲檢測儀器精度為2型及2型以上的積分平均聲級計或環境噪聲自動監測儀器,其性能應符合要求GB3785和GB/T17181規定并定期驗證。測量前后使用聲校準器校準測量儀器的示值偏差不得大于0.5dB,否則,測量無效。聲校準器應滿足要求。GB/T15173對一級或二級聲校準器的要求。測量時,傳聲器應加防風罩。根據監測對象和目的,可選擇以下三種測點條件(指傳聲器的位置)進行
作為化學成分檢測第三方機構,優爾鴻信,在電子產品、汽車材料零部件、半導體材料、電子元件、塑料原料、金屬材料、產品工業、整機環保管控等領域,針對重金屬超標測試,已有成熟的分析方案。常用重金屬含量測定方法有:XRF熒光光譜法、ICP電感耦合等離子體光譜法、ICP-MS電感耦合等離子質譜法、AAS原子吸收法、UV紫外可分光光度法等。XRF熒光光譜法,具有快速、無損檢測表面成分的優勢。ICP電感耦合等離子
材料特性分析首先要了解產品中使用四溴雙酚 A(TBBPA)的材料性質。例如,如果 TBBPA 用于塑料外殼,需要研究塑料的類型(如 ABS、PC 等)、玻璃化轉變溫度、結晶度等物理化學特性。一般來說,在高溫、高濕度環境下,具有較低玻璃化轉變溫度的塑料更容易發生 TBBPA 的遷移。分析 TBBPA 與其他材料成分的相容性。如果 TBBPA 在材料中分散不均勻,可能會導致局部濃度過高,增加遷移和釋放
如何采用光譜分析法檢測電子電器產品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力?
采用光譜分析法檢測電子電器產品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力,通常可以使用以下步驟:首先,準備好待檢測的樣品,確保其表面清潔、無損傷和污染物,以獲得準確的檢測結果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法(XRF),利用 X 射線激發樣品中的原子,產生特征熒光 X 射線。通過測量這些熒光 X 射線的能量和強度,可以確定樣品中元素的種類和含量。對于鎳鍍層厚度的檢測,XRF 能夠根據鎳元素的特征譜線強度來
公司名: 優爾鴻信檢測技術(深圳)有限公司
聯系人: 曹
電 話:
手 機: 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業區東環二路二號
郵 編: 0