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日常工作中,你是否存在產品異常反復失效等情況?失效分析的目的就是借助各種分析技術和設備,分辨產品的失效模式和失效機理。較終確認產品失效分析原因,防止失效的反復,提高產品的**性。今天給大家分享的是“電子開關短路失效分析的實驗案例”一、背景介紹某產品電子開關兩金屬端間異物污染,導致原本絕緣的兩金屬端之間導通,相當于電子開關直接閉合導通,阻抗約為40歐。當異物被撥開后,金屬端之間導通現(xiàn)象消失。不良品-
光譜分析法原子發(fā)射光譜法(AES):原理是通過激發(fā)樣品中的原子,使其發(fā)射出具有特征波長的光。對于不銹鋼,將樣品在高溫等離子體等激發(fā)源下激發(fā),不同元素的原子會發(fā)射出特定波長的光,如鉻原子發(fā)射出特定波長的光用于其含量的測定。檢測時,把不銹鋼樣品制成合適的形狀(如塊狀或屑狀),放入光譜儀的激發(fā)源中,儀器會記錄發(fā)射光的波長和強度,通過與已知標準樣品的光譜對比,確定各種化學成分的含量。這種方法可同時檢測多種
不同測試環(huán)境對 PCBA 應力應變測試結果有何影響?
不同的測試環(huán)境對 PCBA 應力應變測試結果有著顯著的影響。溫度環(huán)境是一個關鍵因素。在高溫環(huán)境下,PCBA 上的各種材料會因為熱膨脹而發(fā)生尺寸變化。例如,電路板的基板材料、芯片封裝材料以及焊點等都會膨脹。由于不同材料的熱膨脹系數(shù)不同,這種膨脹差異會導致內部產生熱應力。在高溫測試環(huán)境中,應力應變測試結果通常會顯示出比常溫下更高的應力值,尤其是在不同材料的交接處,如芯片與基板之間的焊點,這種熱應力可能
優(yōu)爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些?
集成電路(IC)檢測是確保其質量和性能的關鍵步驟,以下是一些常用的檢測方法:一、外觀檢查這是最基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時,查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體,檢查其標記是否清晰、完整,確保型號等信息準確無誤,因為標記錯誤可能會導致使用錯誤的芯片。二、功能測試在線測試(ICT)這是在電路板上對 IC 進行測試的
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