優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|膠帶 180° 剝離強(qiáng)度試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

時(shí)間：2025-08-26作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：728

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

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  詞條說明

• 在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)中，產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)（如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地）對(duì)產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因？

  在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)中，不同著地姿態(tài)對(duì)產(chǎn)品損壞程度有著顯著不同的影響。當(dāng)產(chǎn)品正面著地時(shí)，對(duì)于帶有顯示屏的電子設(shè)備，如手機(jī)、平板電腦等，屏幕往往是最容易受損的部分。這是因?yàn)槠聊皇且粋€(gè)相對(duì)脆弱的平面結(jié)構(gòu)，正面著地會(huì)使沖擊力直接作用于屏幕。屏幕玻璃可能會(huì)出現(xiàn)破裂，內(nèi)部的液晶層也可能會(huì)受到擠壓損壞，導(dǎo)致顯示異常。同時(shí)，正面著地還可能使位于產(chǎn)品正面的按鍵、攝像頭等部件因受到?jīng)_擊而損壞，例如按鍵可能會(huì)失去彈

• 對(duì)于PCBA板，除了焊接工藝外，還有哪些因素可能導(dǎo)致離子污染？

  原材料本身的雜質(zhì)基板材料：PCBA（印刷電路板組件）的基板在生產(chǎn)過程中可能會(huì)引入雜質(zhì)離子。例如，基板的玻璃纖維增強(qiáng)材料、樹脂等成分如果在制造過程中受到污染，或者原材料本身純度不夠，就可能含有金屬離子（如鈉、鉀離子）或其他雜質(zhì)離子。這些離子在后續(xù)的使用過程中可能會(huì)遷移，導(dǎo)致離子污染。電子元器件：電子元器件在制造和封裝過程中也可能攜帶離子污染物。比如，一些電容、電阻的封裝材料可能含有微量的鹵化物離子，

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差測(cè)量有哪些標(biāo)準(zhǔn)

  形位公差測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)主要如下：《GB/T 1182-2018產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 幾何公差 形狀、方向、位置和跳動(dòng)公差標(biāo)注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號(hào)和圖樣表示法》?實(shí)際的工業(yè)制品測(cè)量形位公差，會(huì)有很多技術(shù)細(xì)節(jié)，需要來自測(cè)量實(shí)驗(yàn)室的建議，提供形位公差測(cè)量方案，詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯：Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè) 超精密量測(cè)之3D光學(xué)輪廓儀介紹

  超精密量測(cè) 3D 光學(xué)輪廓儀是現(xiàn)代精密測(cè)量領(lǐng)域的一項(xiàng)杰出成果，它在微觀形貌測(cè)量方面展現(xiàn)出非凡的能力。從功能角度來看，3D光學(xué)輪廓儀以其獨(dú)特的光學(xué)技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高精度的三維測(cè)量。它基于光的干涉原理，能夠精確捕捉物體表面微觀的高度信息。其核心功能之一是對(duì)各種復(fù)雜表面的形貌重建。無論是具有精細(xì)紋理的機(jī)械加工表面，還是有著微妙起伏的光學(xué)鏡片，它都能生成精確的三維模型。這種重建能力對(duì)于質(zhì)量控制和產(chǎn)品研發(fā)意義重大