失效分析簡介

時間：2020-03-24作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：160

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  詞條說明

• 聚焦離子束FIB詳細介紹

  聚焦離子束FIB詳解 1.引言 隨著納米科技的發展，納米尺度制造業發展*，而納米加工就是納米制造業的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發展起來的聚焦離子束（FIB）技術利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。 2.工作原理 聚焦離子束(ed

• 光學設備廠家及供應商匯總

  以下是光學設備廠家及供應商匯總，若有您知道還沒統計上的，請留言補充，滴水成海能讓更多人受益。 光學設備廠家及供應商匯總 單位名稱 電話 主營產品 上海儀準電子科技有限公司 13488683602 金相顯微鏡、體視顯微鏡、微光顯微鏡、紅外顯微鏡、掃描電子顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、Ⅹ射線、探針臺、半導體失效分析設備 上海富萊光學科技有限公司 051255183943 奧林巴斯顯微鏡、三豐測量工具、日立

• 雙束FIB設備介紹

  主要優勢 使用 Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質量、定位TEM 和原子探針樣品 Thermo Scientific NICol? 電子鏡筒可進行**高分辨率成像， 滿足較廣泛類型樣品（包括磁性和不導電材料）的較佳成像需求 各類集成化鏡筒內及較靴下探測器，采集優質、銳利、無荷電圖像，提供較完整的樣品信息 可選AS&V4軟件，精確定位感興趣區域，獲取優質、多模態 內部和三維信息 高

• 失效分析實驗室選擇

  失效分析技術，失效分析實驗室，失效機制是導致零件、元器件和材料失效的物理或化學過程。此過程的誘發因素有內部的和外部的。在研究失效機制時，通常先從外部誘發因素和失效表現形式入手，進而再研究較隱蔽的內在因素。在研究批量性失效規律時，常用數理統計方法，構成表示失效機制、失效方式或失效部位與失效頻度、失效百分比或失效經濟損失之間關系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機制、方位和部位。任一產品